X射線繞射分析
                                                                                                 趙中霖

X射線繞射是一常用的分析技術，是用來偵測我們周遭物體內部非常細微且不可被肉眼觀測的晶體結構和其他結構參數的分析。而這些技術的原理非常簡單，就是讓X射線穿過我們所要測量的物體後，以散射強度為基礎去做觀察，並根據散射角度、入射X射線波長對樣品晶格面在特定角度下繞射，產生繞射峰值進行細部分析。最後再根據國際繞射數據中心(International Center for Diffraction Data，ICDD)的標準數據庫中一一對比，去辨別大量不同的結晶樣品，來找出待測物的組成架構。

 

 

 

 

電腦斷層掃描

電腦斷層掃描(Computed Tomography，CT)是一種醫學影像診斷技術，能夠讓醫生在不需進行切割的情況下看到物體的內部，如掃描大腦的切面圖，而它的原理便是使用電腦處理從不同角度拍攝，由多個X射線測量值的組合，產生特性掃描區域的橫截面圖像，像照片一般的擷取每一面的內部樣貌。現今的技術則可利用通過單一軸面的X射線旋轉照射人體的每一個部分，藉由不同的身體組織對X射線吸收能力不同，以電腦處理計算後重建的3D的放射線醫學影像。

 

你知道這是什麼嗎→(X光片)

  

X射線光電子能譜

X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy，XPS)是一種基於光電效應的表面定量光譜技術，就像是一台探測儀可以去識別材料中存在的元素組成或覆蓋其表面的元素，進而讓我們了解整體電子結構和電子態的密度。不僅可以顯示存在於物體上的元素，還可以顯示它們結合了哪些其他元素。這項技術可用於元素成分在整個表面上的輪廓分析，或與離子束蝕刻配對使用時的深度輪廓分析，所以這項技術便經常用於研究材料的化學過程，讓科學家清楚的了解材料的內部化學變化。

 

Back